Wykaz publikacji wybranego autora

Krystyna Płońska-Niżnik

specjalista

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kmm, Katedra Metaloznawstwa i Metalurgii Proszków

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: brak

PBN: 5e7094cb878c28a0473c3df5

System Informacyjny AGH (SkOs)

Liczba pozycji spełniających powyższe kryteria selekcji: 4, z ogólnej liczby 4 publikacji Autora

1
  • [referat, 2008]
  • TytułMicrostructural changes during high temperature creep of CMSX-4 single crystal ${Ni}$-base superalloy
    AutorzyB. DUBIEL, K. PŁOŃSKA-NIŻNIK, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ
    ŹródłoEM'2008 : XIII international conference on Electron Microscopy : Zakopane, Poland, 8–11 June 2008 : abstracts. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, cop. 2008. — S. 53
2
  • [artykuł w czasopiśmie, 2012]
  • TytułMicrostructure characterization of chromium carbides coatings deposited by thermal spraying processes
    AutorzyM. W. RICHERT, M. Książek, P. PAŁKA, S. Wawrzyniak, R. Grzelka, K. PŁOŃSKA-NIŻNIK
    ŹródłoJournal of Achievements in Materials and Manufacturing Engineering. — 2012 vol. 55 iss. 1, s. 108–112. — tekst: http://jamme.acmsse.h2.pl/papers_vol55_1/55113.pdf
3
  • [referat, 2013]
  • TytułSample preparation methods – an overview
    AutorzyGrzegorz CEMPURA, K. PŁOŃSKA-NIŻNIK, A. GRUSZCZYŃSKI
    Źródłoesteem 2 : European network for electron microscopy : 4th Stanislaw Gorczyca European School on TEM basics and advanced sample preparation : Kraków, 1–4.10.2013 : proceedings / eds. G. Cempura, A. Czyrska-Filemonowicz. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe "Akapit", cop. 2013. — S. 273–286
4
  • [referat, 2016]
  • TytułSample preparation methods (including FIB) - an overview
    AutorzyGrzegorz CEMPURA, Adam GRUSZCZYŃSKI, Krystyna PŁOŃSKA NIŻNIK
    ŹródłoThe 5textsuperscript{th} Stanisław Gorczyca European school on Electron microscopy and electron tomography : Kraków, 5-8.07.2016 : proceedings / ed. by G. Cempura, A. Gruszczyński, A. Czyrska-Filemonowicz ; AGH University of Science and Technology, International Centre of Electron Microscopy for Materials Science, Faculty of Metals Engineering and Industrial Computer Science. — Kraków : AGH University of Science and Technology, 2016. — S. 363–375