Wykaz publikacji wybranego autora

Grzegorz Cempura, dr inż.

adiunkt

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kmm, Katedra Metaloznawstwa i Metalurgii Proszków

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-1875-1588 orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 55071948300

PBN: 5e70920b878c28a04738f09c

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

Liczba pozycji spełniających powyższe kryteria selekcji: 175, z ogólnej liczby 176 publikacji Autora

1
2
  • [referat, 2009]
  • Tytuł3D characterization and metrology of oxide nanoparticles in ODS alloy by electron tomography
    AutorzyA. KRUK, B. DUBIEL, W. OSUCH, G. CEMPURA, J. C. Hernandez, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ
    ŹródłoMC 2009 [Dokument elektroniczny] : Microscopy Conference in Graz, Austria : 30 August–4 September 2009 / eds. G. Kothleitner, [et al.]. — Graz : Verlag der TU, cop. 2009. — S. 101–102

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Aleksandra Czyrska-Filemonowicz, Beata Dubiel, Adam Kruk, Władysław Osuch

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
4
  • [referat, 2020]
  • TytułAdvanced electron microscopy for aeronautics and energy systems : qualitative and quantitative approach
    AutorzyGrzegorz CEMPURA, Adam KRUK
    ŹródłoEM'2020 [Dokument elektroniczny] : XVII international conference on Electron Microscopy : November 30textsuperscript{th} - December 2textsuperscript{nd} 2020, Katowice, Poland : book of abstracts / Silesian University of Technology, Institute of Metallurgy and Materials Science. Polish Academy of Sciences, PTMi. — [Poland : Silesian University of Technology], [2020]. — S. 31

  • keywords: TEM, FIB-SEM tomography, superalloys, in situ TEM

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Adam Kruk

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5
  • [referat, 2023]
  • TytułAdvanced electron microscopy of materials for power generation
    AutorzyGrzegorz CEMPURA, Adam KRUK
    ŹródłoMODENERLANDS COST ACTION CA20109 : modular energy islands for sustainability and resilience : book of abstracts for the strategic workshop on the energy islands - technical challenges and industrial opportunities : Luxembourg, May 15–16, 2023 / ed. by Carlos Rebelo, [et al.]. — [Brussels : COST European Cooperation in Science & Technology], [2023]. — S. 98

  • keywords: microstructure, electron microscopy, power generation materials

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Adam Kruk

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

6
  • [referat, 2008]
  • TytułAnalysis of $gamma$' and $gamma$” precipitates in nickel-base superalloy inconel 718 using HRTEM and 3D visualisation methods : abstract
    AutorzyE. STĘPNIOWSKA, B. DUBIEL, D. Geiger, G. CEMPURA, J. C. Hernandez, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ
    Źródło2textsuperscript{nd} Stanisław Gorczyca Workshop on Electron microscopy: new TEM techniques : 1–4.10.2008, Kraków : proceedings / eds. Beata Dubiel, Elżbieta Stępniowska, Aleksandra Czyrska-Filemonowicz. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, 2008. — S. 306–307

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Aleksandra Czyrska-Filemonowicz, Beata Dubiel, Elżbieta Stępniowska

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

7
8
9
  • [referat, 2017]
  • TytułApplication of analytical electron microscopy and FIB/SEM tomographic technique for phase analysis in as-cast Allvac 718Plus superalloy
    AutorzyA. KRUK, G. CEMPURA
    ŹródłoXVI International conference on Electron microscopy : 10 – 13 September 2017, Jachranka, Poland : conference program and book of abstracts / Warsaw University of Technology, Polish Society for Microscopy. — [Polska : WUT], [2017]. — S. 52

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Adam Kruk

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

10
  • [referat, 2018]
  • TytułApplication of analytical electron microscopy and tomographic techniques for metrology and 3D imaging of microstructural elements in $Allvac^®$ 718Plus™
    AutorzyA. KRUK, G. CEMPURA, S. LECH, A. M. Wusatowska-Sarnek, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ
    ŹródłoProceedings of the 9th international symposium on superalloy 718 & derivatives: energy, aerospace, and industrial applications / ed. Eric Ott, [et al.]. — Cham : Springer International Publishing AG, 2018. — S. 1035–1050

  • keywords: FIB-SEM tomography, Laves phase, HRSTEM, Allvac 718Plus, STEM-EDX tomography, SEM-EDX, eta-phase

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Aleksandra Czyrska-Filemonowicz, Adam Kruk, Sebastian Lech

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1007/978-3-319-89480-5_69

11
  • [artykuł w czasopiśmie, 2010]
  • TytułApplication of EFTEM and FIB electron tomography to 3D visualization and metrology of nanoparticles in Inconel 718 superalloy
    AutorzyAdam KRUK, Grzegorz CEMPURA, Beata DUBIEL, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ
    ŹródłoInżynieria Materiałowa. — 2010 R. 31 nr 3, s. 606–609

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Aleksandra Czyrska-Filemonowicz, Beata Dubiel, Adam Kruk

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

12
  • [referat, 2008]
  • TytułApplication of electron tomography to 3D visualization of carbonitrides in steel
    AutorzyA. KRUK, W. OSUCH, G. CEMPURA, J. C. Hernandez
    ŹródłoEM'2008 : XIII international conference on Electron Microscopy : Zakopane, Poland, 8–11 June 2008 : abstracts. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, cop. 2008. — S. 91

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Adam Kruk, Władysław Osuch

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

13
  • [referat, 2009]
  • TytułApplication of electron tomography to analysis of nanoparticles in structural alloys
    AutorzyGrzegorz CEMPURA, Adam KRUK, Beata DUBIEL, Juan C. Hernandes, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ
    ŹródłoE-MRS 2009 fall meeting : European Materials Research Society : Warsaw (Poland) : 14th – 18th September, 2009 : scientific programme and book of abstracts / Warsaw University of Technology. — [Polska : s. n.], [2009]. — S. 167

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Aleksandra Czyrska-Filemonowicz, Beata Dubiel, Adam Kruk

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

14
  • [referat, 2014]
  • TytułApplication of TEM and FIB-SEM tomography for analysis of micro- and nanostructural elements in 718Plus superalloy
    AutorzyA. KRUK, G. CEMPURA, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ
    ŹródłoAbstract book of 10th Japanese-Polish joint seminar on Micro and nano analysis : advances in microscopy and microanalysis for soft/hard materials : 24–26 October, 2014, Sapporo, Japan / Hokkaido University. Faculty of Engineering. — [Sapporo : Hokkaido University], [2014]. — S. 26–27

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Aleksandra Czyrska-Filemonowicz, Adam Kruk

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

15
  • [referat, 2011]
  • TytułApplication of transmission electron microscopy and FIB tomography to microstructure characterisation of tungsten based materials
    AutorzyS. Milc, A. KRUK, G. CEMPURA, H. J. Penkalla, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ
    ŹródłoPFMC-13 / FEMaS-1 [Dokument elektroniczny] : 13textsuperscript{th} international workshop on Plasma-facing materials and components for fusion applications and 1textsuperscript{st} international conference on Fusion energy materials science : Rosenheim 9–13 May 2011 : book of abstracts. — [Rosenheim? : s. n.], [2011]. — S. 184

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Aleksandra Czyrska-Filemonowicz, Adam Kruk

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

16
17
  • [artykuł w czasopiśmie, 2023]
  • TytułAtomic-scale characterization of contact interfaces between thermally self-assembled Au islands and few-layer $MoS_{2}$ surfaces on $SiO_{2}$
    AutorzyEnrico Gnecco, Arkadiusz Janas, Benedykt R. Jany, Antony George, Andrey Turchanin, Grzegorz CEMPURA, Adam KRUK, Manoj Tripathi, Frank Lee, A. B. Dalton, Franciszek Krok
    ŹródłoApplied Surface Science. — 2023 vol. 616 art. no. 156483, s. 1–6. — tekst: https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0169433223001599

  • keywords: self assembly, transmission electron microscopy, 2D materials, solid-solid interfaces, metal clusters

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Adam Kruk

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.apsusc.2023.156483

18
  • [referat, 2023]
  • TytułAtomic-scale characterization of contact interfaces between thermally self-assembled Au islands and $MoS_{2}$ substrate surfaces
    AutorzyE. Gnecco, B. R. Jany, A. George, A. Turchanin, G. CEMPURA, A. KRUK, F. Krok
    ŹródłoECOSS36 [Dokument elektroniczny] : 36textsuperscript{th} European Conference on Surface Science : 28. 08. 2023-01. 09. 2023, Łodz, Poland : abstract book (version 25/08) / Faculty of Physics and Applied Informatics, University of Lodz. — [Lodz : Faculty of Physics and Applied Informatics, University of Lodz], [2023]. — S. 37

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Adam Kruk

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

19
20
  • [referat, 2010]
  • TytułCharacterisation of $gamma$' and $gamma$” strengthening particles in Inconel 718 superalloy by Electron Microscopy and FIB Tomography
    AutorzyA. CZYRSKA-FILEMONOWICZ, A. KRUK, B. DUBIEL, G. CEMPURA
    ŹródłoIMC17 [Dokument elektroniczny] : International Microscopy Congress : Rio, Brazil, 19–24 September, 2010 : proceedings. — [Brazil : Sociedade Brasileira de Microscopia et Microanálise], [cop. 2010]. — S. [1–2]

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Aleksandra Czyrska-Filemonowicz, Beata Dubiel, Adam Kruk

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

21
22
  • [referat, 2016]
  • TytułCharacteristics of Al203 layers formed on aluminum alloys by plasma electrolytic oxidation
    AutorzyMateusz JĘDRUSIK, Grzegorz CEMPURA
    ŹródłoThe 5textsuperscript{th} Stanisław Gorczyca European school on Electron microscopy and electron tomography : Kraków, 5-8.07.2016 : proceedings / ed. by G. Cempura, A. Gruszczyński, A. Czyrska-Filemonowicz ; AGH University of Science and Technology, International Centre of Electron Microscopy for Materials Science, Faculty of Metals Engineering and Industrial Computer Science. — Kraków : AGH University of Science and Technology, 2016. — S. 398–399

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Mateusz Jędrusik

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

23
  • [artykuł w czasopiśmie, 2016]
  • TytułCharacteristics of multi-layer coatings synthesized on Ti6Al4V alloy by micro-arc oxidation in silver nitrate added electrolytes
    AutorzyFaiz Muhaffel, Grzegorz CEMPURA, Meryem Menekse, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ, Nevin Karaguler, Huseyin Cimenoglu
    ŹródłoSurface and Coatings Technology. — 2016 vol. 307 pt. A, s. 308–315. — tekst: https://goo.gl/Ffa9ze

  • keywords: silver, hydroxyapatite, microarc oxidation, Ti6Al4V, multi-layer coating, antibacterial, titania

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Aleksandra Czyrska-Filemonowicz

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.surfcoat.2016.09.002

24
  • [referat, 2015]
  • TytułCharacterization of complex coatings deposited by micro-arc oxidation on Ti6Al7Nb alloy
    AutorzyJoanna KARBOWNICZEK, G. CEMPURA, F. Muhaffel, H. Cimenoglu, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ
    ŹródłoREDEOR : Unified Scientific Approaches Towards Regenerative Orthopaedics and Dentistry : international conference : 25–27 March 2015, Venice, Italy : conference book. — [Italy : s. n.], [2015]. — S. 48–49

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Aleksandra Czyrska-Filemonowicz, Joanna Karbowniczek

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

25
  • [referat, 2019]
  • TytułCharacterization of gold rich nanostructures on AIII-BV semiconductor surfaces by electron microscopy and machine learning techniques
    AutorzyB. R. Jany, A. Janas, W. Piskorz, K. Szajna, A. KRYSHTAL, G. CEMPURA, P. Indyka, A. KRUK, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ, F. Krok
    ŹródłoMC 2019 [Dokument elektroniczny] : Microscopy Conference : 1–5 September 2019, Berlin, Germany : abstracts. — [Berlin : s. n.], [2019]. — S. 303–304

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Aleksandra Czyrska-Filemonowicz, Adam Kruk, Oleksander Kryshtal

    cyfrowy identyfikator dokumentu: