Wykaz publikacji wybranego autora

Beata Dubiel, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kppm, Katedra Plastycznej Przeróbki Metali i Metalurgii Ekstrakcyjnej


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-4917-5437 orcid iD

ResearcherID: GRR-7991-2022

Scopus: 55999375600

PBN: 5e70920b878c28a04738f0a7

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)





Liczba pozycji spełniających powyższe kryteria selekcji: 232, z ogólnej liczby 235 publikacji Autora


1
  • 2\textsuperscript{nd} Stanisław Gorczyca Workshop on Electron microscopy: new TEM techniques
2
  • 3D characterization and metrology of oxide nanoparticles in ODS alloy by electron tomography
3
  • 3D imaging and metrology of yttria dispersoids in Incoloy MA956 by electron tomography
4
  • 3D imaging and metrology of yttria dispersoids in INCOLOY MA956 by electron tomography
5
6
  • Analiza mikrostruktury nadstopu SCRY4 po pełzaniu
7
  • Analiza mikrostruktury stopu SCRY4 po pełzaniu
8
  • Analiza wydzieleń faz $\gamma$' i $\gamma$” umacniających stop Inconel 718
9
  • Analiza wydzieleń faz $\gamma$' i $\gamma$” w nadstopie niklu IN718 metodami wysokorozdzielczej mikroskopii elektronowej i holografii elektronowej
10
  • Analysis of $\gamma$' and $\gamma$” precipitates in nickel-base superalloy inconel 718 using HRTEM and 3D visualisation methods
11
  • Analytical electron microscopy and electron holography of ${Co}$ magnetic layers deposited on ${Cu}$
12
  • Analytical electron microscopy investigation of topologically close-packed phases in CMSX-4 single crystal superalloy
13
  • Analytical electron microscopy investigation of topologically close-packed phases in CMSX-4 single crystal superalloy
14
  • Analytical electron microscopy investigations of a microstructure of single and polycrystalline $\beta$-${Mg_{2}Al_{3}}$ Samson phase
15
  • Analytical electron microscopy studies of precipitates in Inconel 625 additively manufactured by L-PBF technology and subjected to high-temperature annealing
16
  • Analytical electron microscopy studies of the CMSX-4 single crystal superalloy subjected to high temperature annealing
17
  • Analytical electron microscopy studies of the CMSX-4 single crystal superalloy subjected to high temperature annealing
18
  • Analytical TEM and electron holography of ferromagnetic cobalt nanolayers
19
  • Analytical TEM and electron holography of magnetic field distribution in nanocrystalline ${Co}$ layers deposited on ${Cu}$
20
21
  • Analytical TEM characterisation of platinum-aluminide coatings on a nickel-base superalloy CMSX-4
22
  • Application of ChemiSTEM EDX to elemental mapping of $\gamma'$ and $\gamma”$ nanoparticles in Inconel 718 superalloy
23
  • Application of EDS mapping for quantitative microstructural analysis of Waspaloy
24
  • Application of EFTEM and FIB electron tomography to 3D visualization and metrology of nanoparticles in Inconel 718 superalloy
25
  • Application of electron tomography to analysis of nanoparticles in structural alloys