Wykaz publikacji wybranego autora

Jerzy Nabielec, dr inż.

adiunkt

Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej
WEAIiIB-kmie, Katedra Metrologii i Elektroniki


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektrotechnika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-8185-9479 orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 7801484412

PBN: 5e70922c878c28a04739119f

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • Wzorcowanie w pomiarach dynamicznychCalibration in dynamic measurements / Jerzy NABIELEC, Paweł Jamróz // Pomiary, Automatyka, Kontrola / Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich. Sekcja Metrologii, Polskie Stowarzyszenie Pomiarów Automatyki i Robotyki POLSPAR ; ISSN 0032-4140. — 2013 vol. 59 nr 6, s. 526–528. — Bibliogr. s. 528, Streszcz., Abstr.. — VI Kongres Metrologii pod hasłem Metrologia królową badań stosowanych : Kielce–Sandomierz, 19–22 czerwca 2013 r.

  • słowa kluczowe: identyfikacja, wzorcowanie, właściwości dynamiczne, metoda dwuczujnikowa

    keywords: calibration, identification, dynamic properties of measurement systems, two sensor correction method

    cyfrowy identyfikator dokumentu: