Wykaz publikacji wybranego autora

Piotr Dziurdzia, dr inż.

adiunkt

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne


  • 2022

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / informatyka techniczna i telekomunikacja (25%)


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-3809-7779 orcid iD

ResearcherID: B-5065-2019

Scopus: 6506073617

PBN: 5e70922b878c28a047391116

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)



Statystyka obejmuje publikacje afiliowane AGH od 2008 roku włącznie

typ publikacji
rocznikl. publ.książkifragm.referatyartykułypatentymapyred. czas.inne
ogółem75251184
202411
202111
202011
201811
2017211
20167232
201511
20145311
20135221
20124112
2011413
2010321
200933
200811
200711
2006541
200533
200444
2003312
200222
2001541
200055
1999871
język publikacji
rocznikrazempolskojęzyczneanglojęzycznepozostałe języki
ogółem751758
202411
202111
202011
201811
201722
2016734
201511
2014523
2013514
2012413
201144
201033
200933
200811
200711
2006523
200533
2004413
2003321
2002211
200155
200055
1999826
kraj wydania
rocznikrazempubl. krajowepubl. zagraniczne
ogółem755916
202411
202111
202011
201811
201722
2016752
201511
201455
201355
201244
2011422
2010321
200933
200811
200711
200655
200533
200444
200333
200222
2001523
2000523
1999871
Lista Filadelfijska
rocznikrazempubl. z LFpubl. pozostałe
ogółem75669
202411
202111
202011
201811
201722
2016716
201511
201455
201355
2012413
201144
2010312
200933
200811
200711
200655
200533
200444
200333
200222
2001514
200055
199988
punktacja MNiSW
rocznikrazempubl. z pkt. MNiSWpubl. pozostałe
ogółem752550
202411
202111
202011
201811
2017211
201677
201511
2014541
2013532
2012431
2011413
2010312
2009312
200811
200711
200655
200533
200444
200333
200222
200155
200055
199988
publikacje recenzowane
rocznikrazempubl. recenzowanepubl. nierecenzowane
ogółem753639
202411
202111
202011
201811
2017211
201677
201511
2014541
2013523
2012431
2011422
2010312
200933
200811
200711
2006514
200533
200444
2003321
200222
2001523
2000514
1999817



1
  • A benchmark chip for measurements and experiments aiming at improving reliability of SoCs
2
  • A charge pump integrated in 180nm CMOS technology for voltage conversion in heat energy harvesters
3
  • A compact thermoelectric harvester for waste heat conversion
4
  • A compact thermoelectric harvester for waste heat conversion
5
  • A concept of a self-powering heat meter
6
  • A concept of a self-powering heat meter
7
  • A new didactic equipment for teaching of industrial GSM/GPRS and telemetry systems
8
  • A novel approach to testing of microstructures operation
9
  • Ad hoc networks for applications with energy harvesters
10
  • An efficient electrothermal model of a thermoelectric converter for a thermal energy harvesting process simulation and electronic circuits powering
11
  • Analiza własności energetycznych wielopoziomowych dekoderów n-na-$2^{n}$ w technologii CMOS
12
  • ASIC for active heat sinks control – design and testing
13
  • ASICs design – education and research
14
  • Autonomous measuring system for remote monitoring powered by thermoelectric converter
15
  • Autonomous wireless link powered with harvested heat energy
16
  • Benchmark ASIC for IDDQ current monitoring and thermal testing methods comparison
17
  • Breath sensor based on conductive foam
18
  • Comparative analysis of electrothermal models of TEGs based on constant and temperature dependent parameters
19
  • Current sensor based on a CMOS cascode gain stage
20
  • Current sensor for active heat sink control
21
  • Current sensors for CMOS 0.7 $\mu m$ technology – comparative analysis
22
  • Design and analysis of multi-level $n-to-2^{n}$ decoders in CMOS technology
23
  • Design for improved reliability of systems on chips
24
  • Diagnostyka uszkodzeń w systemach SoC oparta na monitorowaniu średniej wartości prądu $I_{DD}$
25
  • Diagnostyka uszkodzeń w systemach SoC w oparciu o monitorowanie wartości średniej prądu $I_{DD}$